TESEQ NSG 3040電源質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng)
TESEQ NSG 3040電源質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng)是抗擾度測(cè)試中的模擬電磁干擾影響的多功能發(fā)生器，它操作簡(jiǎn)便、具有多種功能，滿足企業(yè)、國(guó)內(nèi)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)(包括最新的IEC/EN標(biāo)準(zhǔn))和CE標(biāo)志測(cè)試的傳導(dǎo)EMC測(cè)試要求。TESEQ NSG 3040電源質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng)采用了特測(cè)公司最新設(shè)計(jì)理念包含了電子快速瞬變(EFT)和電能質(zhì)量測(cè)試 (PQT)。豐富的擴(kuò)展功能使該系統(tǒng)提供更廣泛的應(yīng)用配置范圍。
TESEQ NSG 3040電源質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng)是多用途系統(tǒng)，可以按照基本測(cè)試要求配置和擴(kuò)展以滿足復(fù)雜的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的需求。成熟、獨(dú)特的“主—從”概念技術(shù)使得單個(gè)脈沖模塊能夠獨(dú)立校準(zhǔn)，并將校準(zhǔn)資料和修正系數(shù)存儲(chǔ)于從控制器上。新模塊安裝簡(jiǎn)便，無(wú)需返回整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行校準(zhǔn)。由于采用技術(shù)先進(jìn)的組件，TESEQ NSG 3040電源質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng)在開關(guān)切換技術(shù)和相位精度方面建立了新的標(biāo)準(zhǔn)，并且超越了現(xiàn)行標(biāo)準(zhǔn)的要求。
高畫質(zhì)及對(duì)比度的7"大彩色觸摸顯示屏使得TESEQ NSG 3040電源質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng)的操作非常簡(jiǎn)便。根據(jù)要求，既可以通過(guò)一體化鍵盤也可以用帶有靈敏度調(diào)整鍵的滾輪來(lái)進(jìn)行輸入。此外，在開發(fā)環(huán)境下，通過(guò)內(nèi)置的TA(測(cè)試程序調(diào)用)功能，幾個(gè)“點(diǎn)擊”就能激活標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試，迅速、可靠地得到結(jié)論性結(jié)果。便捷的觸摸按鈕使輸入的每個(gè)參數(shù)的值非常明顯，并允許用戶快速選擇和修改所有的設(shè)置。該操作不需要觸控筆，測(cè)試參數(shù)可以迅速、簡(jiǎn)便地編輯出來(lái)。可以簡(jiǎn)便地進(jìn)行多步驟測(cè)試程序的增加、程序次序及參數(shù)值的修改。
在“專家模式”下，用戶可以在測(cè)試中使用滾輪進(jìn)行手動(dòng)參數(shù)修改，從而有效、迅速地簡(jiǎn)化激活關(guān)鍵閾值。通過(guò)SD讀卡器可迅速進(jìn)行固件下載?？梢酝暾谋４嬗捎脩糁付ǖ臏y(cè)試。在存儲(chǔ)空間不夠的特殊情況下，可用市場(chǎng)購(gòu)買的SD記憶卡更換該記憶卡，而存放其中的測(cè)試文件可被輕松復(fù)制進(jìn)更大內(nèi)存的SD卡中。
TESEQ NSG 3040電源質(zhì)量測(cè)試系統(tǒng)具有以太網(wǎng)端口，可接受來(lái)自個(gè)人電腦的外部控制。Windows軟件簡(jiǎn)化了測(cè)試程序并允許為各種類型的測(cè)試編寫復(fù)雜的測(cè)試序列。在測(cè)試進(jìn)程中，操作人員可以進(jìn)行觀察并在測(cè)試操作中生成測(cè)試報(bào)告，以此增加長(zhǎng)期測(cè)試的效率。
