完整耐壓測試解決方案
Chroma 19050系列耐壓測試器采用高精度的數(shù)位硬件構(gòu)架,結(jié)合電壓與負(fù)載變動(dòng)補(bǔ)償確保測試完整性。多步功能允許使用者在一個(gè)程序中執(zhí)行多個(gè)測試步驟,如先執(zhí)行AC耐壓其次是IR多個(gè)工步測試。
19050系列耐壓測試器有3個(gè)機(jī)種供選擇,19052ACV/DCV/IR耐壓測試器為單通道;19053ACV/DCV/IR耐壓測試器內(nèi)置8信道高壓掃描功能;19054 ACV/DCV/IR耐壓測試則內(nèi)置4信道高壓掃描功能。配有數(shù)位顯示面板與易于操作的界面,簡單執(zhí)行耐壓與絕緣測試,為新型耐壓測試器。
19070系列耐壓測試器有2機(jī)種供選擇,19073ACV/DCV/IR耐壓測試器與19071 ACV耐壓測試器。19070系列為攜帶方便型的綜合耐壓測試器,超小型體積但具備大型LCD顯示器,易于觀看測試結(jié)果,適用于電子零件之安規(guī)測試,為精致型耐壓測試器。
在執(zhí)行耐壓測試前使用OSC功能來檢查待測物是否有開路(Open)或短路(Short)現(xiàn)象,確保測試有效性。
19070及19050系列與Chroma其它安規(guī)測試系列儀器同樣具有電氣閃絡(luò)偵測功能。電氣閃絡(luò)是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電,待測物失去原有之絕緣特性,形成瞬時(shí)或非連續(xù)性放電,導(dǎo)致碳化導(dǎo)電渠道產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良,因此Flashover偵測為高壓測試不可或缺的檢視項(xiàng)目之一。
Chroma 19070與19050系列皆具有接地連續(xù)性測試功能,待測物電源線接地端與產(chǎn)品任一金屬外露部件檢查其電阻是否小于1Ω。
國際電工法規(guī)要求在潮濕環(huán)境下設(shè)備需具有接地失效中斷功能,這類型設(shè)備當(dāng)接地電流連續(xù)幾毫秒大于0.5mA時(shí)會(huì)自動(dòng)中斷電源以保護(hù)使用者安全。
在直流耐壓(DCV)和絕緣電阻(IR)測試時(shí)利用內(nèi)部變壓器做放電,達(dá)到快速又安全的放電。
電氣閃絡(luò)偵測FLASHOVER DETECTION(ARC)
19070&19050系列與Chroma其它安規(guī)測試系列儀器同樣具有Flashover偵測功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電,待測物失去原有之絕緣特性,形成瞬時(shí)或非連續(xù)性放電,導(dǎo)致碳化導(dǎo)電渠道產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無法檢出不良,須以測試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測為高壓測試不可或缺的檢視項(xiàng)目之一。
OSC功能為偵測測試過程中是否有開路(接觸不良)或短路(待測物短路)的情形發(fā)生,測試過程中若發(fā)生開路現(xiàn)象,會(huì)導(dǎo)致不良品誤判為良品;若發(fā)生短路現(xiàn)象,可提早得知并篩選,減少對(duì)治具設(shè)備的傷害,節(jié)省測試成本。一般耐壓測試產(chǎn)品皆呈電容性(Cx),在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)μF之間。一旦發(fā)生連接斷路則會(huì)在斷路界面形成微小電容量(圖2之Cc),一般低于10pF,而呈現(xiàn)整體電容量遠(yuǎn)低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象。而當(dāng)待測物短路或接近短路時(shí)時(shí)則會(huì)呈現(xiàn)電容量遠(yuǎn)高于正?,F(xiàn)象。因此可利用電容量變化之上下限值判定出短路問題。
安規(guī)測試的目的是為了保護(hù)產(chǎn)品使用者的安全。Chroma 19070及19050系列擁有GFI人體保護(hù)功能來保護(hù)測試人員。在突發(fā)人體感電的情形下,GFI能夠立即切斷儀器之電壓輸出,保護(hù)操作員不受電氣傷害。GFI功能以偵測從地端(Earth GND)流回之電流(iH)與RETURN端電流(i1),比較后若大于0.5mA,則會(huì)在立即切斷電壓輸出。
面板說明
應(yīng)用范圍
■符合家電類、IT產(chǎn)業(yè)與設(shè)備類之UL、TUV、IEC等法規(guī)要求,如EN60335、EN60950、EN61010、CSA C22.2 No.1010.1、UL3111和UL1950等生產(chǎn)測試
■變壓器安規(guī)測試
■各類電子元件測試