Chroma 19305系列為繞線組件脈沖測試器，系列機種包含(Chroma 19305)單通道及(Chroma 19305-10)10通道輸出測試，最高擁有6kV脈沖電壓與200MHz高速取樣率提高放電檢測能力，10uH感量以上產(chǎn)品測試，擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動總量(Flutter)及波形二階微分數(shù)(Laplacian)等判定方法，可有效檢測線圈自體絕緣不良。
繞線組件于生產(chǎn)檢測包含電氣特性、電氣安規(guī)耐壓進行測試，而線圈之自體絕緣不良通常是造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設計不良、加工制程不良或絕緣材料之劣化等所引起，故加入線圈層間短路測試有其必要性。
所謂的「繞線組件脈沖測試」基本上是以一「非破壞性」、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測物上，再藉由分析/比對待測物良品與不良品之等效波形以達到判定良否之目的。繞線組件脈沖測試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線組件中各種潛在之缺陷，例如：層間短路、甚至是不易發(fā)覺之部分放電等。
Chroma 19305系列為針對繞線組件測試需求所設計，利用一高壓充電之微小電容(測試能量低)與待測線圈形成RLC并聯(lián)諧振，由諧振之衰減波形，透過高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗出線圈自體之絕緣不良及局部放電，提供變壓器、電感等繞線產(chǎn)品進行層間短路測試，讓繞線組件生產(chǎn)廠商及用戶在質(zhì)量驗證時，不但擁有可靠的測試質(zhì)量，能更有效率為產(chǎn)品質(zhì)量把關。
Chroma 19305-10對于產(chǎn)在線的測試需求提供多通道掃描應用(最大10通道)，單機10通道輸出可達成一次多顆掃描測試，節(jié)省測試時間及人力成本。
四種波形判定模式
- 波形面積比較 (Area Size)
- 波形面積差比較 (Differential Area)
- 波形顫動總量 (Flutter Value)
- 波形二階微分數(shù) (Laplacian Value)
